霍爾效應(yīng)的測(cè)量是研究半導(dǎo)體的重要實(shí)驗(yàn)方法。利用霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率的聯(lián)合測(cè)量，霍爾效應(yīng)測(cè)試儀可以用來(lái)確定半導(dǎo)體的導(dǎo)電類(lèi)型和載流子濃度。通過(guò)測(cè)量霍爾系數(shù)與電導(dǎo)率溫度的變化，可以確定半導(dǎo)體的禁帶寬度、雜質(zhì)電離能及遷移率的溫度系數(shù)等基本參數(shù)。